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“镀层”如何高效运用XRF镀层测厚仪 《XRF镀层分析助力100%检测》即将开讲

时间:2022-09-02 19:33:05来源:化工仪器网

今天,聚焦化工小新为大家分享来自化工仪器网的《如何高效运用XRF镀层测厚仪 《XRF镀层分析助力100%检测》即将开讲》。

镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜厚度的仪器。镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是检测产品是否达到优等质量标准的必要手段。XRF分析其基本的无损性质,加上快速测量和结构紧凑的台式仪器等优点,能实现现场分析并立即得到结果。

随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,X射线镀层测厚仪在向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向不断进步。而实现 100% 检测是日常电镀操作重要但困难的环节。它需要手动分析、做出决策,并完成复杂的测量设置。事实上,72% 的 XRF(X 射线荧光)测试时间浪费在设置过程中。

2022年下午14:00,化工仪器网联合日立分析仪器(上海)有限公司,推出《XRF镀层分析助力100%检测》专题讲座,日立分析仪器(上海)有限公司高级应用工程师董松林在线讲课,帮助观众更好地了解和运用XRF 镀层测厚仪。

在本次网络研讨会中,观众将了解如何通过 XRF 镀层测厚仪获得更多零件分析,同时减少操作员的工作量。日立分析仪器将重点介可以在操作中使用的高级功能,包括仪器视觉、广域相机、自动对焦等,这些功能将有助于改进用户的 XRF 程序。 此外,观众还可以了解为工业 4.0 设计的连接功能,从而为将来做好准备。

关于日立分析仪器

日立分析仪器专注于高科技分析解决方案,帮助数以千计的企业降低成本,降低风险,提高生产效率。公司基于实验室和强大的高性能现场测试仪器提供材料和涂层分析,为包括原材料勘探、来料检验、生产和质量控制以及回收利用在内的整个生产周期增值。

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