“半导体”20项国家标准公布 涉多项仪器仪表测试方法

今天，聚焦化工小新为大家分享来自中国化工仪器网的《20项国家标准公布 涉多项仪器仪表测试方法》。

标准是促进技术进步，改善产品质量，规范社会市场秩序的重要手段，已上升至民族工业的制高点。长期以来，标准作为交往的技术语言和贸易的技术依据，在保障产品质量、提高市场信任度、促进商品流通、维护公平竞争等方面发挥了重要作用。如今，我国正加快国家标准的制修工作，保障行业更好地发展。

国家标准的不断更替说明了我国行业发展的脚步日益加快，这得益于新兴产业的崛起和新技术的推出。面对固有标准法则不再适用现下需求的境况，为更好的促进行业规范发展，提高产品质量，推出新标已然成为当务之急。

近日，国家质量监督检验检疫总局、国家标准化管理委员会批准《半导体集成电路 电压调整器测试方法》等20项国家标准，并予以公布。其中，涉及多项仪器仪表测试方法。包括电压调整器测试方法、噪音源测试方法、微波电路 压控振荡器测试方法等。

序号

国家标准编号

国 家 标 准 名 称

代替标准号

实施日期

1

GB/T 4377-2018

半导体集成电路 电压调整器测试方法

GB/T 4377-1996

2018-08-01

2

GB/T 14028-2018

半导体集成电路 模拟开关测试方法

GB/T 14028-1992

2018-08-01

3

GB/T 35001-2018

微波电路 噪声源测试方法

2018-08-01

4

GB/T 35002-2018

微波电路 频率源测试方法

2018-08-01

5

GB/T 35003-2018

非易失性存储器耐久和数据保持试验方法

2018-08-01

6

GB/T 35004-2018

数字集成电路 输入/输出电气接口模型规范

2018-08-01

7

GB/T 35005-2018

集成电路倒装焊试验方法

2018-08-01

8

GB/T 35006-2018

半导体集成电路 电平转换器测试方法

2018-08-01

9

GB/T 35007-2018

半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法

2018-08-01

10

GB/T 35008-2018

串行NOR型快闪存储器接口规范

2018-08-01

11

GB/T 35009-2018

串行NAND型快闪存储器接口规范

2018-08-01

12

GB/T 35010.1-2018

半导体芯片产品 第1部分：采购和使用要求

2018-08-01

13

GB/T 35010.2-2018

半导体芯片产品 第2部分：数据交换格式

2018-08-01

14

GB/T 35010.3-2018

半导体芯片产品 第3部分：操作、包装和贮存指南

2018-08-01

15

GB/T 35010.4-2018

半导体芯片产品 第4部分：芯片使用者和供应商要求

2018-08-01

16

GB/T 35010.5-2018

半导体芯片产品 第5部分：电学仿真要求

2018-08-01

17

GB/T 35010.6-2018

半导体芯片产品 第6部分：热仿真要求

2018-08-01

18

GB/T 35010.7-2018

半导体芯片产品 第7部分：数据交换的XML格式

2018-08-01

19

GB/T 35010.8-2018

半导体芯片产品 第8部分：数据交换的EXPRESS格式

2018-08-01

20

GB/T 35011-2018

微波电路 压控振荡器测试方法

2018-08-01

合理、规范的国家标准将有利于仪器仪表行业更好地发展壮大，便于我国的仪器研发团队在现有仪器标准的基础上，开发更便捷快速的零部件，提升仪器的技术含量。同时对我国仪器制造商业有了明确的规范，对仪器测量的精度和准度作出了更高的要求，这将有助于我国分析仪器更好的得到长足发展。

此次，《半导体集成电路 电压调整器测试方法》等20项国家标准发布，对相关仪器仪表的测试办法进行制修订。这对我国仪器仪表行业的发展而言百利而无一害，与此同时，对相关的仪器商而言，也为企业日后的发展指明了方向，意义十分重大。

好了，关于“半导体”20项国家标准公布 涉多项仪器仪表测试方法就介绍到这。